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2022年湖南科技大學(xué)專升本材料科學(xué)與工程專業(yè)《材料分析與測試技術(shù)》課程考試大綱

2022-11-03
來源:好老師升學(xué)幫
閱讀 1057
導(dǎo)讀:通過材料分析與測試技術(shù)的學(xué)習(xí),考察其對 X 射線衍射分析技術(shù)、透射電子顯微分析技術(shù)、掃描電子顯微分析技術(shù)、電子探針顯微分析技術(shù)的掌握程度;著重觀察其對各種分析技術(shù)基本原 理及儀器設(shè)備結(jié)構(gòu)的熟練程度,使學(xué)生具備常用的材料微觀結(jié)構(gòu) 分析技術(shù)的所必須的基本理論及方法,具備一定的分析問題的能 力和實驗?zāi)芰Α?/div>

備考2023年湖南專升本的同學(xué),想知道湖南科技大學(xué)2023年專升本相關(guān)政策有哪些,目前2023年湖南各大院校考試政策暫未發(fā)布,但大家可以參考2022年考試大綱,提前做好考試準(zhǔn)備。以下是《材料分析與測試技術(shù)》專業(yè)課程考試相關(guān)內(nèi)容,備考湖南科技大學(xué)專升本的同學(xué)趕快一起來看看吧~

一、考試的目的與要求

通過材料分析與測試技術(shù)的學(xué)習(xí),考察其對 X 射線衍射分析技術(shù)、透射電子顯微分析技術(shù)、掃描電子顯微分析技術(shù)、電子探 針顯微分析技術(shù)的掌握程度;著重觀察其對各種分析技術(shù)基本原 理及儀器設(shè)備結(jié)構(gòu)的熟練程度,使學(xué)生具備常用的材料微觀結(jié)構(gòu) 分析技術(shù)的所必須的基本理論及方法,具備一定的分析問題的能 力和實驗?zāi)芰Α?/p>

1. 掌握X 射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析、電子探針顯微分析的基本理論;

2. 掌握各種分析測試技術(shù)儀器的基本結(jié)構(gòu)及工作原理;

3. 掌握常用分析測試技術(shù)對試樣的要求及試樣的制備方法;

4. 具備根據(jù)材料的性質(zhì)等信息確定分析手段的初步能力;

5. 具備對檢測結(jié)果進(jìn)行標(biāo)定和分析解釋的初步能力。

二、考試知識點及要求

(一)X 射線衍射分析(35%左右)

1. 考試知識點:

X 射線的物理學(xué)基礎(chǔ)、X 射線衍射方向、X 射線衍射強度、多晶體分析方法、物相分析

2. 考試要求:

(1) 識記:X 射線的本質(zhì);連續(xù)X 射線譜和特征X 射線譜

的概念及產(chǎn)生機理;X 射線與物質(zhì)的相互作用;布拉格方程的形式及各參數(shù)的意義;干涉面、干涉指數(shù)的概念;晶面指數(shù)與干涉 指數(shù)的關(guān)系;倒易點陣的性質(zhì);簡單點陣、體心點陣、面心點陣 三種點陣的消光規(guī)律;X 射線物相分析中定性分析的基本原理及基本步驟。

(2) 理解:布拉格方程的推導(dǎo)及應(yīng)用;結(jié)構(gòu)因數(shù)的物理意義及計算;晶體衍射花樣的特點; X 射線衍射儀法;定量分析的原理及分析方法

(3) 應(yīng)用:利用布拉格方程求晶面的衍射角;立方點陣結(jié)構(gòu)因數(shù)的計算;K 值法進(jìn)行定量分析

(二)透射電子顯微分析(30%左右)

1. 考試知識點:

電子光學(xué)基礎(chǔ)、透射電子顯微鏡、電子衍射、晶體薄膜衍襯 成像分析

2. 考試要求:

(1) 識記:電磁透鏡像差及產(chǎn)生的原因;電磁透鏡分辨率的影響因素;電磁透鏡的景深和焦長的概念;電磁透鏡的景深大 、焦長長的原因;透射電子顯微鏡的主要組成部分及作用;透鏡 中主要光闌的位置及作用;電子衍射與 X 射線衍射的異同;電子衍射的基本公式;電子衍襯成像的概念;薄膜試樣的制備步驟; 明場像、暗場像、中心暗場像的概念及成像時電子束及物鏡光闌 的位置。

(2) 理解:透射電鏡的成像原理倒易點陣;愛瓦爾德圖解; 晶帶定理;單晶電子衍射花樣的標(biāo)定方法。

(3) 應(yīng)用:利用嘗試校核法對已知晶體結(jié)構(gòu)衍射花樣進(jìn)行標(biāo)

定。

(三)掃描電子顯微分析技術(shù)(20%左右)

1. 考試知識點:

電子束與固體樣品的相互作用、掃描電子顯微鏡的構(gòu)造和工作原理、掃描電子顯微鏡的主要功能、表面形貌襯度原理及應(yīng)用、 原子系數(shù)襯度原理及應(yīng)用。

2. 考試要求:

(1)識記:二次電子、被散射電子、特征X 射線、俄歇電子的概念及特點;掃描電鏡的工作原理;掃描電鏡光學(xué)系統(tǒng)的結(jié) 構(gòu);掃描電鏡的主要性能指標(biāo);二次電子信號的特點;背散射電 子信號的特點;影響掃描電鏡分辨率的因素。

(2)理解:二次電子形貌襯度像的原理及應(yīng)用、背散射電 子襯度像的原理及應(yīng)用。

(3)應(yīng)用:根據(jù)樣品需要選擇合適的信號進(jìn)行微觀結(jié)構(gòu)分析。

(四)電子探針顯微分析(15%左右)

1. 考試知識點:

電子探針的結(jié)構(gòu)與工作原理、電子探針的分析方法及應(yīng)用

2. 考試要求:

(1) 識記:電子探針的工作原理、電子探針的三種工作方式

(2) 理解:波譜儀及能譜儀的工作原理和優(yōu)缺點、電子探針的分析方法。

(3) 應(yīng)用:根據(jù)樣品需要選擇波譜分析還是能譜分析。

三、試卷結(jié)構(gòu)及主要題型

(一)試卷結(jié)構(gòu)

基本題 70%左右,綜合題 20%左右,提高題 10%左右。

(二)主要題型

主要題型有四大題型,可根據(jù)具體情況作調(diào)整,單項選擇題30% 左右,填空題 25%左右,簡答題 30% 左右,計算題 15%左右。

四、考試方式

采用閉卷考試形式,出一套試題,并附標(biāo)準(zhǔn)答案。

五、試題數(shù)量及時間安排

試卷應(yīng)涵蓋教學(xué)大綱規(guī)定內(nèi)容的 90%以上,考試時間 120 分鐘。

六、使用教材及主要參考書

(一)使用教材

《材料分析方法》(第 3 版)周玉主編,機械工業(yè)出版社

(二)主要參考書

《材料近代分析測試方法》(修訂版) 常鐵軍,劉喜軍主編, 哈爾濱工業(yè)大學(xué)出版社

以上資料來自小編個人整理匯總,僅供同學(xué)們參考,具體參考書目和考試大綱以院校最新公布信息為準(zhǔn)!希望同學(xué)們在新的一年中好好復(fù)習(xí),突破自我,專升本成功~2023年湖南專升本的同學(xué),如果有專升本相關(guān)疑惑或者需要學(xué)習(xí)上的幫助,可以在文末留下你的聯(lián)系方式,我們將竭盡為你服務(wù)~

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